更新时间:2026-05-11
点击次数: 国家知识产权局信息显示,上海市计量测试技术研究院有限公司取得一项名为“基于双光栅干涉的微型旋转编码器校准装置”的专利,授权公告号CN223940310U,申请日期为2025年3月。
专利摘要显示,本实用新型公开了一种基于双光栅干涉的微型旋转编码器校准装置,包括双光栅零差干涉校准系统、微振动位移台和微型旋转编码器及接收系统,双光栅零差干涉校准系统包括单频激光光源、分列于微振动位移台两侧的两自溯源光栅干涉光路以及光电接收装置,微振动位移台的位移底座中间位置处设有安装有两光栅调节装置的机械振动模块,微型旋转编码器设于两光栅之间,且与其中一光栅调节装置拼接,并与单片机控制模块电路相连,单片机控制模块接收上位机输入的目标参数信息控制旋转编码器,并驱动微振动位移台沿矢量方向连续振动,带动光栅旋转设定角度,实现对微型旋转编码器的高精度校准,可溯源到“米”的定义,稳定性高、溯源链短、鲁棒性强。
天眼查资料显示,上海市计量测试技术研究院有限公司,成立于2025年,位于上海市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本338000万人民币。通过天眼查大数据分析,上海市计量测试技术研究院有限公司参与招投标项目83次,专利信息343条,此外企业还拥有行政许可20个。
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